10kV高压开关柜交接试验方法

2024-02-22 贝博电子app

  ( 制定尽量详 细的操作流程度 三) 操作 流程制 定应细化 。具体可参 照:

  步骤 1 :试验 时 ,可将实 验工作 人员分 成两 组 , 分别负责 回路直流 电阻试 验和绝缘耐压试验 的准 备工 作 。在第一 组实施 开关回路直流 电阻试验 时,第二组 一定得完成接线和试 验条件 的检查工作 ,检查过 程应当 尽量详细 。当第一组工作人员将所有 的开关设为 “ 合 闸”状态 时,进 行后续的测试 ,测试结束后将 开关处

  摘要 :当前 我 国高压 室 高压开 关柜 交接 试验 中存 在许 多亟 待 解决 的 问题 ,如 交叉工作 人 员过 多 ,试验 方法设

  计 不 当等 问题 。 文章针 对 调 查所得 结 果 ,在 对造 成 开 关柜 交接 试验 时 间过 长 的 因素进行 简要 分 析 的基 础上 ,

  工 作 时 间 , 甚 至 达 一 个 工 作 日 。 在 本 文 中 ,作 者 结

  其 次,工作人员可 以采用兆欧表 ,对开关母线 的 侧三相短路 的关断 口进行绝缘摇开 ,测试后如果阻值

  再次,将 电压提至 3 V k ,维持的时间为1 分钟,停 止 加压后摇绝缘 电阻 ,若阻值依 旧大于1 0 欧 ,表明绝 20 缘 电阻实验 .耐压实验均达到一定的要求 。拆除高压室 内全 部开关柜 线路侧 的接地导线 ,开关合闸状态 。

  于 “ 闸 ”状 态 。 分 步 骤 2 由第 二 组 人 员 将 高 压 操 作 箱 和 变 压 器 相 :

  原 因 为了进一步探究和 改进1 k 开关柜交接试验的方 0V 法 ,作者深入调查 了造成1 k 高压开关柜交接试验 时 0V

  验 属破 坏 性试验 ,因为在 具 体 的操 作 过程 中需 要对 设备持 续施加 近6 秒 的3 k 的高压对 其进 行耐 压 能 0 8V 力检测 ;而 回路直 电阻测试则是对在开关 闭合后 的

  高 。在 进 行 交 接 试 验 时 ,需 要 进 行 三 大 试 验 , 即绝 缘 电 阻试 验 、 耐 压 试 验 、 回 路 直 流 电阻 测 试 。绝 缘 电 阻 试 验 , 主 要 是 针 对 对 开 关 断 口 、绝 缘 能 力 进 行 检 查 ; 而 耐 压 试 验 则 不 同 , 在 开 关 柜 交 接 试 验 中 , 耐 压 试

  作, 员的工作条件较 为复杂,复杂 的环境条 件也就 给 人 实验 工作 的顺利 开展 带来 了阻碍 。尤其是在 将要进行 耐压试验前 ,为了能够更好的保证现场人员 的安全 ,必 须使得试 验人员 占用很 多时间对现场人员进行疏 散,就使得实 验工作 的时间大大拉长 。 ( 试验 方式效率较低 二) 目前常用 的逐个 开关柜试验 的方法 是当前l k 开 OV

  文章编 号 : 0 9 2 7 2 1 0 — 1 5 0 1 0 — 3 4( 0 2) 9 0 2 — 2

  1k 高压开关柜的交接试验是变 电站高压室交接 0V 实验中十分关键 的一个实验过程 。结合作者实 际工作 情况 发现 目前 阻碍 1 k 开关柜 交接 试验 工作 效率提 0V 升的原因很多 ,其 中具有影响最为直接 的主要表现在 三 个方面:其一 ,由于短路或者接地导线简陋等 ;其 二, 由于试验工作人员较多 ,在工作 中存在交叉导致 试验过程衔接不 当;其三 ,开关柜交接试验 中试验 方 法的设计不 当。这往往使得开关柜交接试验耗 费大量

  通 过 这 四个 流 程进 行 1 k 高 压 开 关 柜 交 接 试 验 , 0V

  合 自己实际在做的工作实践 ,在对造成开关柜交接试验 时间 过长、工作效率难 以提升的因素进行深入分析 的基础 上,提 出一些优化1 k 高压开关柜交接试验 的途径 , 0V 意在 为1 k 高压开关柜交接试验方法探究与 改进提供 0V

  ( 实验环境条件 很复杂 一) 在对 高压 室进行 改造接近 结束时所进行得 1k 高 0V 压 开关柜 的交接试验过程中,安装厂家一定要采取二次

  回路的调试方法 ,安排计量班负责计量模块的调试 工 作 ,同时需要安排实施工程人员在安装过程中给予必要的 帮助 。这就增 加 了交叉人员的数量,使得 高压室 内工

  针 对优 化 1 k 高压 开 关柜 交接 试 验 的途 径进 行 了探 讨 ,意在 为 1k 高压 开 关柜 交接 试 验 方 法探 究与 改进 0V 0V

  关键 词 : 0 V 高压开 关柜 ;交接 试验 ; 次 回路 ;高压 室 1k 二

  实践证 明需要3 分钟 。因此 ,如果要对整个高压室 的 0 1 k 开关柜 进行交接试 验 ,则会耗 费将近6 小时的 0V 个

  中存在的缺 陷。这种缺 陷的存在使得试验人员在进行 此项耗时长 、操作复杂 的工作后 ,过渡劳累 ,引发事

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